半導體高低溫沖擊試驗箱內箱材質采用SUS#304不銹鋼板，外箱材質采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板，增加外觀質感機潔凈度，箱體死角圓弧造型設計，造型美觀大方。

箱體保溫層采用高強度PU及保溫棉，達到優良的保溫效果。

箱體配備直徑50mm的測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。

制冷加熱控制系統：

1）制冷機：歐美進口高性能制冷壓縮機（法國泰康全封閉壓縮機或美國谷輪半封閉壓縮機）

 制冷方式：風冷式二元復疊制

 制冷劑：R404A、R23

2）加熱器：鰭片式散熱管形鎳鉻合金U型高效加熱器

3）控制系統：7寸微電腦大型彩色液晶顯示觸控式控制器，中英文顯示控制系統。具備RS-232通訊界面及連接軟件，可在電腦熒幕上設計程序、收集測試資料與記錄、呼叫程序執行，并可實現遠程控制。

1、高溫儲熱范圍：+60℃--+200℃

2、低溫儲冷范圍：-10℃～-55℃（A型） , -10℃～-65 ℃（B型） ,-10℃～-75℃（C型）

3、試驗范圍：

高溫：+60℃~+150℃

低溫：-10℃~-40℃（A型）；-10℃~-55℃（B型）；-10~-60℃（C型）

4、升溫時間：+60℃~+200℃約需25min

5、降溫時間：+20℃~-55℃小于60min；+20℃~-65℃小于75min；+20℃~-75℃小于90min；

6、風門切換時間：小于或等于10S

7、溫度恢復時間：5min

8、溫度波動：±0.5℃

9、溫度偏差：±2℃

型號：BY-260D

①規格（容量）：63升

測試區尺寸：400*350*350 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1500*1450*1900 （W*D*Hmm）

②規格（容量）：80升

測試區尺寸：500*400*400 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1600*1500*2000 （W*D*Hmm）

③規格（容量）：150升

測試區尺寸：600*500*500 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1700*1600*2000 （W*D*Hmm）

④規格（容量）：225升

測試區尺寸：500*600*750 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1800*1800*2000 （W*D*Hmm）

⑤規格（容量）：500升

測試區尺寸：800*800*800 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：2600*1900*2000 （W*D*Hmm）

⑥規格（容量）：1000升

測試區尺寸：1000*1000*1000 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：2800*2000*2200 （W*D*Hmm）

免費送貨上門，并安裝調試操作介紹，同時進行機器操作技術培訓。（直到需方員工獨立操作并滿意為止）。

本產品符合GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150 等國家標準。

半導體高低溫沖擊試驗箱用于考核產品對周圍環境溫度急劇變化的適應性，是裝備設計定型的鑒定試驗和批產階段的例行試驗中*的試驗，在有些情況下也可以用于環境應力篩選試驗。可以說冷熱沖擊試驗箱在驗證和提高裝備的環境適應性方面應用的頻度僅次于振動與高低溫試驗。